SN74LVTH182512DGGR

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Numéro d'article	SN74LVTH182512DGGR
LIXINC Part #	SN74LVTH182512DGGR
Fabricant	Texas Instruments
Catégorie	circuits intégrés › logique - logique de spécialité
Description	IC SCAN-TEST-DEV/XCVR 64-TSSOP
Cycle de vie	Actif
RoHS	Aucune information RoHS
Modèles EDA/CAO	SN74LVTH182512DGGR Empreinte et symbole PCB
Entrepôts	États-Unis, Europe, Chine, RAS de Hong Kong
Délai de livraison estimé	Oct 23 - Oct 27 2024(Choisissez l'expédition accélérée)
garantie	Jusqu'à 1 an [Garantie limitée]*
Paiement
Expédition

SN74LVTH182512DGGR Caractéristiques

Numéro d'article:	SN74LVTH182512DGGR
Marque:	Texas Instruments
Cycle de vie:	Active
RoHS:	Lead free / RoHS Compliant
Catégorie:	circuits intégrés
Sous-catégorie:	logique - logique de spécialité
Fabricant:	Texas Instruments
série:	74LVTH
emballer:	Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
état de la pièce:	Active
type logique:	ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers
tension d'alimentation:	2.7V ~ 3.6V
nombre de bits:	18
température de fonctionnement:	-40°C ~ 85°C
Type de montage:	Surface Mount
paquet / caisse:	64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
paquet de dispositif de fournisseur:	64-TSSOP

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