SN74ABT18640DGGR

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Numéro d'article SN74ABT18640DGGR
LIXINC Part # SN74ABT18640DGGR
Fabricant Texas Instruments
Catégorie circuits intégréslogique - logique de spécialité
Description IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
Cycle de vie Actif
RoHS Aucune information RoHS
Modèles EDA/CAO SN74ABT18640DGGR Empreinte et symbole PCB
Entrepôts États-Unis, Europe, Chine, RAS de Hong Kong
Délai de livraison estimé Oct 20 - Oct 24 2024(Choisissez l'expédition accélérée)
garantie Jusqu'à 1 an [Garantie limitée]*
Paiement Wire Transfer, UnionPay, PayPal, Credit Card, Visa, MasterCard, AmericanExpress, Discover, WesternUnion, MoneyGram
Expédition DHL, UPS, FedEx, TNT, EMS, & More Express Delivery

SN74ABT18640DGGR Caractéristiques

Numéro d'article:SN74ABT18640DGGR
Marque:Texas Instruments
Cycle de vie:Active
RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Catégorie:circuits intégrés
Sous-catégorie:logique - logique de spécialité
Fabricant:Texas Instruments
série:74ABT
emballer:Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
état de la pièce:Obsolete
type logique:Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
tension d'alimentation:4.5V ~ 5.5V
nombre de bits:18
température de fonctionnement:-40°C ~ 85°C
Type de montage:Surface Mount
paquet / caisse:56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
paquet de dispositif de fournisseur:56-TSSOP

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