SN74BCT8374ADWR

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Numéro d'article SN74BCT8374ADWR
LIXINC Part # SN74BCT8374ADWR
Fabricant Texas Instruments
Catégorie circuits intégréslogique - logique de spécialité
Description IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC
Cycle de vie Actif
RoHS Aucune information RoHS
Modèles EDA/CAO SN74BCT8374ADWR Empreinte et symbole PCB
Entrepôts États-Unis, Europe, Chine, RAS de Hong Kong
Délai de livraison estimé Oct 22 - Oct 26 2024(Choisissez l'expédition accélérée)
garantie Jusqu'à 1 an [Garantie limitée]*
Paiement Wire Transfer, UnionPay, PayPal, Credit Card, Visa, MasterCard, AmericanExpress, Discover, WesternUnion, MoneyGram
Expédition DHL, UPS, FedEx, TNT, EMS, & More Express Delivery

SN74BCT8374ADWR Caractéristiques

Numéro d'article:SN74BCT8374ADWR
Marque:Texas Instruments
Cycle de vie:Active
RoHS:Lead free / RoHS Compliant
Catégorie:circuits intégrés
Sous-catégorie:logique - logique de spécialité
Fabricant:Texas Instruments
série:74BCT
emballer:Tape & Reel (TR)
état de la pièce:Obsolete
type logique:Scan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
tension d'alimentation:4.5V ~ 5.5V
nombre de bits:8
température de fonctionnement:0°C ~ 70°C
Type de montage:Surface Mount
paquet / caisse:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
paquet de dispositif de fournisseur:24-SOIC

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